iSurfa-300 粗糙度波纹度测试仪
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产品特点与应用
产品特点:
- 高精度大行程导轨,长度达30mm
- 传感器量程±500μm
- 一体机携带方便且操作舒适
- 参数齐全,包括5种测量类型以及多种国家标准
- 无导头测量更加真实的反馈加工表面的形貌
- 测针可直接更换,更换操作方便,可实现不同场景下的测量
- 传感器可与导轨垂直同向随意切换,测深槽可从侧面进行,无需受限于测针和凹槽的深度
- 支持操作界面以及结果参数公英制切换
- 支持中英文语言的切换
- 数据储存方便,可直接存储在机器内置内存上
- 包括多种滤波方式的分析计算可随意搭配满足要求
- 支持自动多次校准标准块,使校准大大减少误差
产品应用:
- 机械加工行业,用于检测金属零件加工后的表面粗糙度和波纹度,如轴类、齿轮、模具等,确保零件表面质量符合设计要求
- 在材料科学研究中,用于分析材料表面的微观几何形状,研究材料的表面特性和性能之间的关系,为新材料的研发提供数据支持
- 印刷电路板(PCB)的表面粗糙度会影响电子元件的焊接质量和电气性能,该设备可用于检测 PCB 表面,保证电路的稳定性和可靠性
技术规格
| 型号 | iSurfa-300 | ||
| 量程 | X方向:300mm/Z方向:±500μm | ||
| 分辨率 | X方向:0.0016μm/±50μm-0.016μm/±500μm | ||
| 直线度 | 1μm/30mm | ||
| 参数 | 粗糙度
轮廓 |
Ra75,Rq,Rp,Rv,Rc,Rt,S,R3z,PPI,Ra,Rsk,Rku,Ry,Sm,RΔa,RΔq,Rz,Pc,Rλa,Rλq,lr,RSm,Rz94,RPc,RS,Rz.I,Rpm,HSC | |
| 波纹度轮廓 | WCA, WCC-q, WCC-p, WCC-v, WCC-m, WCC2Sm, WCA, WC-q, WC2p, WC-v, WCM, WC2Sm, WC-t, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, WSm, WΔq, WPc | ||
| 原始轮廓 | Rsk, Rku, Rmax, Sm, Δa, Δq, Rz, λa, λq, lr, TILT A, AVH, Hmax, Hmin, AREA, Rz.J, Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pc.I, Pt, PSm, PΔq, PPc, Pc | ||
| 阿伯特曲线 | Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,V0,K,A1,A2 | ||
| Motif | NCRX,AR,R,Rx,NR,CPM,SR,SAR,AW,W,Wx,Wte,NW,SW,SAW,Rke,Rpke,Rvke,Mr1,Mr2,V0,K | ||
| 评价曲线 | 粗糙度轮廓,波纹度轮廓,原始轮廓,阿伯特曲线,Motif | ||
| 特征曲线 | 阿伯特曲线 (Rmr(c),Rmr2(c),Rδc(c),tp(c),tp2(c),Htp(c)),幅频分析曲线,幅值分布曲线 | ||
| 形状去除 | 全局,前半部分,后半部分,中心,2点,曲线 | ||
| 滤波器 | 高斯滤波器,样条滤波器,稳健高斯滤波器,ISO13565-1,ISO16610-31,ISO16610-32 | ||
滤波器类型
高斯、FFT、PC、DP、2RC
滤波器
波长
λs
0, 2.5, 8, 25μm
λc
0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm
λf
0.8, 2.5, 8, 25mm
评估长度
取样长度 × 取样数量(取样长度有标准模式和自定义模式)
测量与返回速度
0.05mm/s, 0.10mm/s, 0.50mm/s, 1.00mm/s, 2.00mm/s
传感器
型号
标准通用型
感应方式
差动电感
量程
±500μm
测针
5μmR 金刚石 90°
接触力
0.4~0.75mN(可调)
显示部分
10英寸彩色IPS触摸屏
数据输出
PDF/WIFI打印
电源
AC 100~240V 50/60Hz
1983%">AC220V±10% 内置可充电电池(交流适配器充电)充电时间3小时
功耗
30VA
重量
净重:3公斤 毛重:10公斤
尺寸
主机 350(长)×116(宽)×146(高)
标准配置
| 项目 | 数量 | 图片 |
| 主机 | 1台 | ![]() |
| 传感器 | 1个 | ![]() |
| 充电器 | 1个 | |
| 标准探头 | 1个 | |
| 标准块 | 1个 | ![]() |
| 防水主机箱 | 1个 | |
| 六角扳手(2.5毫米) | 1个 | |
| 文件 | 1套 |
可选配置
| 项目 | 图片 |
| X-Y十字滑台 | ![]() |
| 平面夹具 | ![]() |
| 大理石V型块 | ![]() |
| 探针 | |
| 微调平台 | |
| 大理石测量台 |



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