iMetal-40UP金相显微镜

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https://www.mikrosize.cn/product/imetal-40up-metallographic-microscope/

产品特点

配备无限远色差校正系统与半复消色差物镜，结合多种观察模式与高分辨率相机，成像清晰锐利，细节与对比度俱佳。
微分干涉功能可将微小高度差转化为立体浮雕图像，精准检测LCD导电粒子、晶圆划痕等隐藏缺陷。
Mikrosize软件支持自动测量、图像拼接及报告生成。电动物镜转盘的双控设计提升检测效率。
符合人体工学的机身配备宽电压系统、4英寸载物台及长工作距离物镜，适用于各类工业样品与环境。
物镜、相机像素、观察筒等可按需选配。支持后期功能升级，满足半导体、材料等领域定制化需求。

产品应用

观察外延膜上的位错坑与台阶流缺陷，利用DIC技术识别纳米级起伏，助力良率提升。
检测切割边缘的锐利毛刺及表面划痕，分析封装材料中的空洞，确保芯片性能与寿命。
适用于MLCC切片检测，观察电极层分布及与介质的界面，识别潜在短路风险。
对电路板切片进行显微观察，评估焊点质量与基板材料缺陷。
观察金属、陶瓷等材料的晶粒与晶界，评估热处理效果，为材料优化提供依据。